光譜共焦傳感器基于波長與位移的對應關系實現高精度測量,兩者原理相似但技術路線分化明顯。

參數維度 | 泓川科技 LTC100B | 德國米銥 IFS2402-0.4 |
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測量范圍 | ±0.05mm(參考距離 8mm) | 400μm(量程起點 1.5mm) |
重復精度 | 3nm | 16nm(取 512 次平均) |
線性誤差 | <±0.03μm | ~0.3μm(≤±0.08%FSO) |
光斑直徑 | Φ2.7μm/5.4μm/43.2μm | 10μm |
測量角度 | ±46.5° | ±8°(鏡反射場景) |
防護等級 | IP40 | IP40 |
成本對比 | 約為米銥的 40%-50% | 高端型號,成本較高 |
優勢 | 1. 大測量角度,適配曲面工件;2. 光斑規格多樣,適合微小目標與表面不平整物體;3. 性價比突出。 | 1. 分辨率更高,適合納米級結構檢測;2. 鈦合金外殼,抗振動(2g/10-500Hz)與沖擊(15g)能力更強;3. 支持 90° 徑向測量,適合深槽內壁檢測。 |
劣勢 | 1. 測量范圍較?。?. 安裝傾角限制較寬松但鏡面反射場景精度易受影響。 | 1. 測量角度狹窄,需嚴格對準;2. 成本高,不適配大規模工業量產。 |
典型應用 | 手機曲面 R 角測量、小型金屬零件輪廓檢測 | 半導體芯片表面掃描、牙科樣本微結構測量 |
參數維度 | 泓川科技 LTC2000 | 德國米銥 IFS2405-1 |
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測量范圍 | ±1mm(參考距離 50mm) | 1mm(量程起點 10mm) |
重復精度 | 85nm | 28nm(1kHz 采樣,512 次平均) |
線性誤差 | <±0.6μm | <±0.25μm(≤±0.025%FSO) |
光斑直徑 | Φ20μm/40μm/320μm | 8μm |
采樣頻率 | 最高 10kHz(控制器 TS-CCS) | 最高 6.5kHz(持續可調) |
接口能力 | USB/RS485 / 以太網 / 模擬量,支持 PLC 總線 | Ethernet/EtherCAT/RS422,支持工業總線同步 |
優勢 | 1. 測量范圍更廣,適合中距離工件;2. 控制器接口兼容性強,適配傳統工業設備;3. 重量輕(162g),安裝靈活。 | 1. 線性誤差更低,適合高精度厚度測量;2. 支持 EtherCAT 高速總線,適配自動化產線;3. 前端防護等級 IP65,適合多塵環境。 |
劣勢 | 1. 采樣頻率與總線兼容性略遜于米銥;2. 溫度漂移系數(≈0.1% F.S/°C)高于米銥。 | 1. 成本是 LTC 的 2-3 倍;2. 探頭重量較大(125g),動態測量時需考慮機械負載。 |
典型應用 | PCB 零件高度差測量、結構件平面度檢測 | 玻璃厚度在線監測、多層薄膜單向測厚 |
參數維度 | 泓川科技 LTC系列控制器 | 米銥 IFC2421/2422 控制器 |
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通道數 | LT-CCS(1 通道)/TS-CCH(16 通道) | IFC2421(1 通道)/IFC2422(2 通道) |
最高采樣頻率 | 1 通道 10kHz,16 通道 4kHz | 1 通道 6.5kHz(內置光源),外接氙燈可達 70kHz |
工業接口 | 標準配置,支持 Modbus / 以太網,可選 EtherCAT | 原生支持 EtherCAT/RS422,適配工業 4.0 產線 |
軟件生態 | 提供 TSConfocalStudio 軟件,支持 C++/C# 二次開發 | 支持網頁調試界面,集成材料數據庫,開發文檔更完善 |
優勢 | 1. 多通道同步采集成本低,16 通道控制器價格約為米銥的 1/3;2. 接口協議通用,適配國產 PLC。 | 1. 采樣頻率與信號穩定性更強,適合高速動態測量;2. 網頁調試界面簡化操作,材料數據庫支持自定義擴充。 |
劣勢 | 1. 高速采樣時(如 10kHz)噪聲抑制能力較弱;2. 復雜場景下的算法優化(如多層厚度)不如米銥。 | 1. 單通道成本高,多通道系統造價昂貴;2. 對工程師調試能力要求更高。 |
核心優勢:
成本控制能力突出:硬件用料(如鋁合金外殼 vs 米銥鈦合金)與供應鏈本地化降低成本,適合 3C 產品、汽車零部件等大規模量產場景,相同精度下采購成本可節省 50%-60%。
兼容性與靈活性:接口覆蓋 USB/RS485 / 模擬量等傳統工業協議,探頭尺寸多樣(如 C8000 直款 / 折款適配狹小空間),適配非標自動化設備改造。
基礎性能均衡:重復精度 3nm-300nm 覆蓋多數工業場景(如手機屏幕平整度檢測要求≤100nm),抗干擾能力強(如抗環境光 30000lx)。
應用局限:
極端環境適應性弱:不支持真空環境與防爆場景,高溫(>50℃)或振動劇烈場景下精度衰減明顯。
高端功能缺失:多層厚度測量僅支持 2-3 層峰值識別(米銥支持 6 層),半導體晶圓測厚等場景難以滿足。
核心優勢:
技術指標領先:分辨率達 16nm,線性誤差≤0.08% FSO,適合半導體芯片(線寬≤10nm)、醫療導管(壁厚公差≤1μm)等極致精度需求。
環境魯棒性強:鈦合金探頭 + 無磨損透鏡設計,可用于真空、防爆區域(如鋰電池注液工序),溫度漂移系數 < 0.03% F.S/°C,長期穩定性更優。
系統集成度高:EtherCAT 總線支持納秒級同步,配合氙燈光源實現 70kHz 高速采樣,適配光伏硅片在線檢測等動態場景。
應用局限:
性價比劣勢:單探頭成本通常超萬元,多通道系統(如 16 通道)造價可達 LTC 的 5-8 倍,中小批量生產場景成本壓力大。
調試門檻高:網頁界面需專業知識(如光譜校準),非標準化測量需定制算法,依賴廠商技術支持。
優先選擇泓川科技 LTC 系列的場景:
消費電子制造:手機中框 R 角測量、PCB 焊盤高度檢測(精度要求≤50nm);
一般工業自動化:金屬工件輪廓掃描、液膜厚度監測(采樣頻率≤10kHz);
中小企業產線改造:預算有限,需快速替換傳統激光傳感器。
優先選擇米銥 confocalDT 的場景:
半導體與微電子:晶圓厚度測量、芯片封裝翹曲檢測(精度要求≤10nm);
高端制造:航空發動機葉片涂層厚度、醫療內窺鏡導管內徑檢測;
科研與極端環境:真空腔體尺寸標定、高溫爐膛內構件位移監測。
光譜共焦傳感器的技術競爭本質是 “精度 - 成本 - 適應性” 的三角博弈。泓川科技 LTC 系列以 “一半成本實現 80% 性能” 打破了高端測量的價格壁壘,成為工業量產的 “普及者”;而米銥 confocalDT 則以 “納米級精度 + 全場景覆蓋” 守住了高端制造的技術高地。用戶可根據自身場景的精度剛需與預算空間,在兩者之間找到最優解 —— 畢竟,最合適的測量方案,從來不是參數表上的絕對值,而是性價比與需求的精準匹配。