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激光測量技術在(ADAS)駕駛輔助系統(tǒng)的應用案例(一)

日期: 2025-01-16
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來自 泓川科技
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一、引言

1.1 研究背景與目的

在汽車行業(yè)邁向智能化與自動化的進程中,先進駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)作為關鍵技術,正發(fā)揮著愈發(fā)重要的作用。ADAS 憑借多種傳感器與智能算法,能夠實時監(jiān)測車輛周邊環(huán)境,為駕駛員提供預警與輔助控制,極大地提升了駕駛的安全性與舒適性。

本報告旨在深入剖析《ADAS 相關工具 核心功能 & 技術》中所涉及的 ADAS 相關工具應用案例,通過詳細描述各案例的具體應用場景、工作原理及達成的效果,深度挖掘這些工具在汽車制造及 ADAS 系統(tǒng)開發(fā)過程中的重要價值,為行業(yè)內相關人員提供具有實際參考意義的信息,助力推動 ADAS 技術的進一步發(fā)展與廣泛應用。

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1.2 研究方法與數據來源

本報告通過對《ADAS 相關工具 核心功能 & 技術》進行全面細致的整理與深入分析,從中系統(tǒng)地提取出各類 ADAS 相關工具的應用案例。在分析過程中,對每個案例的技術原理、應用場景以及所實現的功能進行了詳細闡述,并結合實際情況進行了深入探討。

本文所引用的 ADAS 相關工具的應用案例及技術原理均來自《ADAS 相關工具 核心功能 & 技術》文檔,該文檔為此次研究提供了豐富且詳實的一手資料,確保了研究的準確性與可靠性。

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二、車載相機應用案例剖析

2.1 底部填充膠涂抹高度測量

2.1.1 案例描述

在汽車電子制造中,車載相機的底部填充膠涂抹高度對于確保相機的穩(wěn)定性與可靠性至關重要。通過車載相機進行底部填充膠涂抹高度的測量,具體場景為在生產線上,相機對正在進行底部填充膠涂抹的車載相機模塊進行拍攝。相機利用其搭載的特定成像技術,獲取底部填充膠的圖像信息,隨后系統(tǒng)對這些圖像進行分析處理,從而精確得出填充膠的涂抹高度數值 。

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2.1.2 技術優(yōu)勢分析

相較于傳統(tǒng)的圖像處理方式,該案例采用包含高度數據的 3D 圖像進行檢測,具有顯著優(yōu)勢。傳統(tǒng)圖像處理主要基于 2D 平面圖像進行分析,難以獲取物體的高度信息,對于底部填充膠涂抹高度的測量精度有限。而 3D 圖像檢測技術能夠全方位、立體地呈現底部填充膠的形態(tài),不僅可以獲取平面信息,還能精確測量其高度。這使得檢測結果更加準確、全面,能夠有效避免因測量誤差導致的產品質量問題,大大提升了檢測的品質,為后續(xù)車載相機的組裝及性能穩(wěn)定性提供了有力保障 。

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2.2 鏡片高度及相關縫隙測量

2.2.1 鏡片模塊內鏡片間高度測量

在車載相機的鏡片模塊生產過程中,精確測量鏡片間的高度是確保相機成像質量的關鍵環(huán)節(jié)。利用 CL 系列相機,采用可完成同軸測量的彩色共焦方式進行鏡片間高度的測量。具體操作時,相機發(fā)射特定波長的光,光線照射到鏡片上后,根據反射光的特性,通過彩色共焦原理,精確計算出不同鏡片之間的高度差值。即使在目標物高度發(fā)生變化時,由于該測量方式的光點直徑不會隨著測量高度改變,測量點也不會出現錯位,從而保證了在整個測量范圍內都能進行高精度的測量,有效滿足了鏡片模塊對鏡片間高度精度的嚴格要求 。

激光測量技術在(ADAS)駕駛輔助系統(tǒng)的應用案例(一)

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2.2.2 蓋板玻璃與 CMOS 縫隙測量

蓋板玻璃與 CMOS 之間的縫隙大小對車載相機的性能有著重要影響,若縫隙過大或過小,都可能導致相機出現進光不均勻、水汽侵入等問題,進而影響成像質量。在這一測量案例中,同樣運用 CL 系列相機的同軸測量技術。當相機對蓋板玻璃與 CMOS 之間的縫隙進行測量時,即使目標物(如蓋板玻璃)具有透明或鏡面特性且發(fā)生傾斜,該系列相機也能憑借其獨特的測量原理,準確檢測到縫隙的大小。通過精確測量縫隙,能夠及時發(fā)現生產過程中的裝配問題,確保車載相機的密封性和光學性能,提高產品的整體質量和可靠性 。

激光測量技術在(ADAS)駕駛輔助系統(tǒng)的應用案例(一)

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2.3 CMOS 傾斜檢測及相機模塊行程檢測

2.3.1 CMOS 傾斜檢測

CMOS 作為車載相機的核心感光元件,其傾斜狀態(tài)直接影響相機的成像效果。在檢測 CMOS 傾斜時,CL 系列相機發(fā)揮了關鍵作用。該系列相機采用同軸測量方式,通過發(fā)射特定光束照射到 CMOS 上,根據反射光的角度和位置信息,精確計算出 CMOS 的傾斜角度。即使面對透明或鏡面的 CMOS 目標物發(fā)生傾斜的復雜情況,相機也能穩(wěn)定、準確地進行檢測。這種精確的檢測方式能夠及時發(fā)現 CMOS 的傾斜問題,以便在生產過程中進行調整和修正,確保相機能夠正常工作,獲取高質量的圖像 。

激光測量技術在(ADAS)駕駛輔助系統(tǒng)的應用案例(一)

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2.3.2 相機模塊行程檢測

在車載相機模塊的裝配過程中,相機模塊的行程是否符合標準,對于相機的聚焦、變焦等功能的實現至關重要。采用彩色共焦方式的 CL 系列相機,能夠對相機模塊的行程進行精確檢測。由于該系列相機的光點直徑在整個測量范圍內不會隨著測量高度的變化而改變,這使得在測量相機模塊行程時,能夠在不同位置都保持高精度的測量。通過對相機模塊行程的準確檢測,可以有效監(jiān)控裝配過程,確保相機模塊的各項功能能夠正常運行,提高車載相機的整體性能和穩(wěn)定性 。

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三、2D/3D 線激光測量儀應用全景

3.1 粘合劑體積與涂抹相關測量

3.1.1 安裝蓋板玻璃前粘合劑體積測量

在電子設備制造領域,安裝蓋板玻璃是一項關鍵工序,而粘合劑的涂抹量對于確保蓋板玻璃與設備主體之間的穩(wěn)固連接以及良好的密封性起著決定性作用。在這一應用案例中,2D/3D 線激光測量儀被應用于安裝蓋板玻璃前的粘合劑體積測量場景。

在實際操作過程中,測量儀利用其先進的線激光技術,對即將用于粘貼蓋板玻璃的粘合劑進行掃描。通過發(fā)射特定頻率和強度的激光束,測量儀能夠精準地捕捉粘合劑的輪廓信息。這些激光束與粘合劑表面相互作用,反射回來的光線被測量儀的高靈敏度傳感器所接收。測量儀搭載的高性能算法會對這些反射光線的數據進行快速且精確的分析處理,從而將粘合劑的三維形狀清晰地還原出來。基于這一精確還原的三維形狀,測量儀能夠高度準確地計算出粘合劑的體積數值。

這一測量過程對于產品質量控制具有不可忽視的重要作用。如果粘合劑體積過多,在安裝蓋板玻璃時,多余的粘合劑可能會溢出,不僅影響產品的外觀整潔度,還可能會污染設備內部的其他精密部件,進而對設備的正常運行產生潛在威脅。相反,若粘合劑體積過少,蓋板玻璃與設備主體之間的連接就無法得到充分的保障,可能會導致密封性不佳,使得設備在后續(xù)使用過程中容易受到灰塵、水汽等外界因素的侵蝕,極大地降低了產品的可靠性和使用壽命。通過使用 2D/3D 線激光測量儀對粘合劑體積進行精確測量,生產企業(yè)能夠嚴格把控粘合劑的使用量,確保每一個產品在組裝過程中都能達到最佳的粘貼效果和密封性能,從而有效提升產品的整體質量,降低次品率,提高生產效率和經濟效益 。


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3.1.2 印刷電路板上粘合劑涂抹體積檢測

在電子制造行業(yè)中,印刷電路板作為電子設備的核心部件,其質量直接關系到整個設備的性能和可靠性。而印刷電路板上粘合劑的涂抹情況對于電路板上電子元件的固定以及電路的穩(wěn)定性起著至關重要的作用。因此,準確檢測印刷電路板上粘合劑的涂抹體積具有極其重要的意義。

2D/3D 線激光測量儀在這一檢測任務中發(fā)揮了關鍵作用。該測量儀配備了大范圍動態(tài)量程的超高靈敏度 CMOS 傳感器,這一先進的傳感器使得測量儀能夠對各種復雜的目標物進行穩(wěn)定且精準的檢測。在對印刷電路板上的粘合劑進行檢測時,測量儀通過發(fā)射線激光對電路板表面進行全面掃描。激光束在遇到粘合劑表面時會發(fā)生反射,反射光被 CMOS 傳感器高效接收。由于傳感器具有超高靈敏度,能夠捕捉到極其微弱的反射光信號,從而獲取到粘合劑表面的詳細信息。

測量儀所搭載的大范圍動態(tài)量程技術,則使得其能夠適應不同大小和形狀的粘合劑涂抹區(qū)域。無論是大面積的粘合劑涂抹,還是細微處的粘合劑點涂,測量儀都能夠準確地進行測量。通過對反射光數據的深入分析和處理,測量儀能夠精確計算出粘合劑的涂抹體積。

這一測量技術在電子制造中具有多方面的重要性。精確的粘合劑涂抹體積檢測有助于確保電子元件在印刷電路板上的牢固固定。只有當粘合劑的涂抹量恰到好處時,電子元件才能在各種復雜的工作環(huán)境下保持穩(wěn)定,不會因振動、溫度變化等因素而發(fā)生位移或脫落,從而保證了電路連接的穩(wěn)定性和可靠性。準確的粘合劑涂抹體積檢測還能夠避免因粘合劑過多或過少而引發(fā)的一系列問題。過多的粘合劑可能會導致不同電子元件之間發(fā)生短路,嚴重影響電路的正常工作;而過少的粘合劑則無法為電子元件提供足夠的支撐和固定力,降低了產品的質量和耐用性。2D/3D 線激光測量儀的應用,為電子制造企業(yè)提供了一種高效、精準的粘合劑涂抹體積檢測手段,有力地保障了印刷電路板的生產質量,推動了電子制造行業(yè)的高質量發(fā)展 。

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3.2 部件高度與位置多元測量

3.2.1 印刷電路板上封裝部件高度檢測

在印刷電路板的生產流程中,封裝部件的高度精確與否直接關系到電路板的整體性能以及后續(xù)與其他組件的裝配兼容性。2D/3D 線激光測量儀在印刷電路板上封裝部件高度檢測方面展現出了卓越的性能。

當對印刷電路板上的封裝部件進行高度檢測時,測量儀首先發(fā)射出線激光束,這些激光束以特定的角度和間距照射到封裝部件的表面。由于封裝部件的表面具有不同的高度特征,激光束在反射過程中會產生不同的反射路徑和時間延遲。測量儀的探測器能夠精確捕捉到這些反射光的變化信息。

通過對反射光的詳細分析,測量儀可以構建出封裝部件表面的三維輪廓圖像。在這個過程中,測量儀利用其先進的算法,根據激光束的發(fā)射角度、反射時間以及探測器的位置信息,精確計算出封裝部件各個點的高度數值。將這些高度數值進行整合和分析,就能夠準確得出封裝部件的整體高度以及與標準高度的偏差情況。

這一檢測過程對電路板生產具有關鍵作用。如果封裝部件的高度不符合設計要求,可能會導致在電路板組裝過程中與其他部件發(fā)生干涉,使得組裝無法順利進行,嚴重影響生產效率。封裝部件高度的偏差還可能會影響到電路的電氣性能,例如導致信號傳輸不穩(wěn)定、接觸不良等問題,進而降低整個電路板的可靠性和穩(wěn)定性。通過使用 2D/3D 線激光測量儀對封裝部件高度進行嚴格檢測,生產廠家能夠及時發(fā)現并糾正高度偏差問題,確保每一塊印刷電路板都符合高質量的生產標準,為電子產品的穩(wěn)定運行提供堅實保障 。


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3.2.2 安裝外殼時傾斜檢測

在設備制造過程中,安裝外殼是一個重要環(huán)節(jié),而確保模塊在安裝外殼時的傾斜度符合要求,對于保證設備的正常運行和整體性能至關重要。2D/3D 線激光測量儀在安裝外殼時的傾斜檢測中發(fā)揮了關鍵作用。

測量儀以 3D 形狀捕捉目標物的方式進行工作。它通過發(fā)射多束線激光,從不同角度對即將安裝外殼的模塊進行全方位掃描。這些激光束在接觸到模塊表面后,會根據模塊的形狀和位置產生不同的反射模式。測量儀的傳感器迅速捕捉這些反射光,并將其轉化為詳細的空間坐標數據。

基于這些豐富的空間坐標數據,測量儀能夠構建出模塊的精確 3D 模型。通過對這個 3D 模型的深入分析,測量儀可以同時檢測出模塊多個點的高度及位置信息。通過對比這些點的實際高度和位置與預設的標準值,測量儀能夠準確判斷出模塊是否存在傾斜以及傾斜的程度和方向。

這種傾斜檢測對于避免安裝不良具有重要的原理和實際效果。如果在安裝外殼時模塊存在傾斜,那么外殼在安裝過程中可能無法與模塊緊密貼合,導致密封性能下降,使得設備容易受到外界環(huán)境因素的影響,如灰塵、水汽等的侵入,從而降低設備的使用壽命和可靠性。傾斜的模塊還可能會導致內部組件之間的相對位置發(fā)生變化,影響設備內部的電路連接和機械結構的正常運行,進而引發(fā)各種故障。通過在安裝外殼前使用 2D/3D 線激光測量儀進行傾斜檢測,能夠及時發(fā)現并糾正模塊的傾斜問題,確保外殼能夠正確、緊密地安裝在模塊上,有效提高產品的質量和穩(wěn)定性,減少因安裝不良而導致的產品故障率,提升生產效率和企業(yè)的經濟效益 。

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3.3 其他特色測量案例

3.3.1 密封材料多維度測量

在眾多工業(yè)產品中,密封材料的性能直接關系到產品的密封性、防水性、防塵性等關鍵特性,進而影響產品的質量和使用壽命。2D/3D 線激光測量儀能夠對密封材料進行高度、寬度、體積等多維度的測量,為確保密封材料的質量和性能提供了有力支持。

在對密封材料進行高度測量時,測量儀發(fā)射的線激光束垂直照射到密封材料的表面,通過分析激光束的反射情況,精確計算出密封材料表面各點的高度信息,從而得到密封材料的整體高度數值。對于寬度測量,測量儀從側面發(fā)射激光束,掃描密封材料的橫向輪廓,根據反射光的變化確定密封材料的寬度邊界,進而準確測量出寬度尺寸。在測量體積時,測量儀結合之前獲取的高度和寬度數據,以及通過對密封材料整體形狀的掃描和分析,利用先進的算法計算出密封材料的體積。

這些多維度的測量對于產品的密封性具有重要影響。如果密封材料的高度不足,可能無法完全填充密封間隙,導致密封不嚴密,出現泄漏現象。寬度不合適則可能導致密封材料與密封部位無法良好匹配,同樣影響密封效果。而體積的準確測量有助于確保在使用密封材料時,其用量既能滿足密封需求,又不會造成浪費。通過對密封材料進行全面、精確的多維度測量,生產企業(yè)能夠嚴格把控密封材料的質量和安裝效果,有效提升產品的密封性和防護性能,保障產品在各種復雜環(huán)境下的正常運行 。

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3.3.2 皮帶輪形狀及凹痕檢測

在工業(yè)生產中,皮帶輪作為傳動系統(tǒng)的重要組成部分,其形狀的準確性和表面的完整性對于確保傳動系統(tǒng)的穩(wěn)定運行、提高傳動效率以及延長設備使用壽命起著至關重要的作用。2D/3D 線激光測量儀在皮帶輪形狀及凹痕檢測方面具有獨特的優(yōu)勢。

測量儀通過發(fā)射線激光束對皮帶輪的表面進行全面掃描。激光束在接觸到皮帶輪表面時,會根據皮帶輪的形狀產生不同的反射路徑和強度變化。測量儀的高靈敏度傳感器能夠精確捕捉這些反射光的細微變化,并將其轉化為詳細的數字信號。通過對這些數字信號的深入分析和處理,測量儀能夠構建出皮帶輪表面的精確三維模型。

在這個三維模型的基礎上,測量儀可以準確檢測皮帶輪的形狀是否符合設計標準。它能夠精確測量皮帶輪的直徑、輪槽的深度和寬度、輪緣的厚度等關鍵尺寸參數,并與預設的標準值進行對比,及時發(fā)現形狀偏差。測量儀還能夠敏銳地檢測出皮帶輪表面是否存在凹痕。對于任何微小的凹痕,測量儀都能通過反射光的異常變化識別出來,并確定凹痕的位置、大小和深度。

這種檢測在工業(yè)生產中具有重要的應用場景和意義。如果皮帶輪的形狀不準確,在傳動過程中會導致皮帶與皮帶輪之間的接觸不良,從而產生打滑現象,降低傳動效率,甚至可能引發(fā)設備故障,影響生產的正常進行。而皮帶輪表面的凹痕則會降低皮帶輪的結構強度,在長期高速運轉過程中,凹痕處可能會逐漸產生裂紋,進一步擴展導致皮帶輪損壞,增加設備維修成本和停機時間。通過使用 2D/3D 線激光測量儀對皮帶輪進行定期的形狀及凹痕檢測,企業(yè)能夠及時發(fā)現并修復潛在的問題,確保皮帶輪始終處于良好的工作狀態(tài),保障工業(yè)生產的高效、穩(wěn)定運行 。


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    2025 - 01 - 17
    一、引言1.1 研究背景與意義在當今數字化信息爆炸的時代,數據存儲的重要性愈發(fā)凸顯。硬盤驅動器(HDD)作為一種傳統(tǒng)且廣泛應用的大容量存儲設備,在數據存儲領域占據著舉足輕重的地位。從個人計算機中的數據存儲,到企業(yè)級數據中心的海量數據管理,HDD 都發(fā)揮著不可替代的作用。隨著科技的飛速發(fā)展,各行業(yè)對數據存儲的容量、速度、穩(wěn)定性以及可靠性等方面的要求不斷提高。例如,在影視制作行業(yè),4K、8K 等高分辨率視頻的編輯和存儲需要大容量且讀寫速度快的存儲設備;在金融行業(yè),大量交易數據的實時存儲和快速檢索對 HDD 的性能和可靠性提出了嚴苛要求。為了確保 HDD 能夠滿足這些日益增長的需求,其制造過程中的質量控制至關重要。而光學傳感器檢測技術在 HDD 的質量控制中扮演著關鍵角色。通過運用光學傳感器,可以對 HDD 的多個關鍵參數進行精確檢測。比如,檢測盤片的平整度,盤片平整度的微小偏差都可能導致磁頭與盤片之間的距離不穩(wěn)定,進而影響數據的讀寫準確性和穩(wěn)定性;測量磁頭的位置精度,磁頭定位不準確會使數據讀寫出現錯誤,降低 HDD 的性能;監(jiān)測電機的轉速均勻性,電機轉速不穩(wěn)定會導致數據讀取速度波動,影響用戶體驗。光學傳感器能夠以非接觸的方式進行高精度檢測,避免了對 HDD 部件的損傷,同時還能實現快速、高效的檢測,大大提高了生產效率和產品質量。 1.2 研究目的與方法本研究旨在深入探究不同類...
  • 3
    2025 - 06 - 09
    一、核心參數深度對比維度泓川科技 HC16 系列奧泰斯 CD22 系列差異影響分析型號覆蓋15/35/100/150mm(4 款)15/35/100mm(3 款)HC16 新增150mm 基準距離型號(HC16-150),測量范圍 ±100mm,填補 CD22 無遠距離型號空白。重復精度(靜態(tài))15mm:1μm;35mm:6μm;100mm:20μm;150mm:60μm15mm:1μm;35mm:6μm;100mm:20μmHC16-150 精度較低(60μm),適合遠距離低精度場景(如放卷料余量粗測),CD22 無對應型號需搭配中繼。通訊擴展性支持 EtherCAT 模塊(文檔提及)、RS485、模擬量僅 RS485、模擬量HC16 對 ** 工業(yè)總線系統(tǒng)(如 PLC 集成)** 兼容性更強,可減少額外通訊模塊成本。電源適應性全系列 DC12-24V 統(tǒng)一輸入模擬量電壓型需 DC18-24V,電流 / 485 型 DC12-24V若用戶系統(tǒng)電源為12-18V,HC16 電壓輸出型(如 HC16-15-485V)可直接替代 CD22 電壓型,避免電源升級成本。功耗≤100mA(全系列)≤700mA(CD22-15A 為例)HC16 功耗僅為 CD22 的1/7,適合電池供電設備、多傳感器陣列場景,降低散熱和電源設計壓力。體積與重量尺寸未明確標注(參考 CD22 為緊湊型...
  • 4
    2022 - 12 - 01
    在煙草分級及倉儲環(huán)節(jié)中有大量的自動化設備,比如高速往復運動的穿梭車堆垛機等,如何建立完善的安全預防措施,保障作業(yè)人員的人身安全是企業(yè)在思考的方向,我們在煙草工業(yè)內部系統(tǒng)里面已經積累了眾多的成功案例,我們會通過機械安全控制以及電器這三個維度來幫助企業(yè)進行評估,具體的改造場景有,立庫輸送管道出入口防護百度極速可在經過現場評估后我們會給客戶出具評估報告和推薦的安全整改。                機械設備,例如馬舵機,泄漏機纏繞機等在快消品行業(yè)是廣泛存在的,特別是碼作機器,經常需要操作人員頻繁介入該區(qū)域應用的工業(yè)機器人運行速度快存在著較高的安全隱患,在轉運站碼垛技術入口,經常采用一套光幕和光電傳感器來實現屏蔽功能,從而實現人物分離,在這個應用中,以物體在傳中帶上面時,車場光電傳感器,從而激活,屏蔽功能,當你為觸發(fā)屏蔽功能很簡單,有些操作人員會拿紙箱或者其他東西遮擋這個光電傳感器,從而很容易就操縱了這個屏蔽功能,存在著很大的安全隱患,針對這個問題,我們開發(fā)出創(chuàng)新高效的是入口防護替代方案,智能門控系統(tǒng),無錫屏蔽傳感器就和實現pp功能,這項專利技術是基于。             專利技術是激光幕,使出入口防務變得更加高效...
  • 5
    2023 - 09 - 11
    非接觸測量涂布厚度的行業(yè)報告摘要:本報告將介紹非接觸測量涂布厚度的行業(yè)應用場景及解決方案。涂布厚度的準確測量在多個行業(yè)中至關重要,如帶鋼、薄膜、造紙、無紡布、金屬箔材、玻璃和電池隔膜等行業(yè)。傳統(tǒng)的測量方法存在一定的局限性,而非接觸測量技術的應用可以提供更準確、高效的測量解決方案。本報告將重點介紹X射線透射法、紅外吸收法和光學成像測量方法這三種主要的非接觸測量解決方案,并分析其適用場景、原理和優(yōu)勢。引言涂布厚度是涂覆工藝中的一個重要參數,對于保證產品質量和性能具有重要意義。傳統(tǒng)的測量方法,如接觸式測量和傳感器測量,存在一定局限性,如易受污染、操作復雜和不適用于特定行業(yè)。而非接觸測量方法以其高精度、實時性和便捷性成為行業(yè)中的理想選擇。行業(yè)應用場景涂布厚度的非接觸測量方法適用于多個行業(yè),包括但不限于以下領域:帶鋼:用于熱鍍鋅、涂覆和鍍鋁等行業(yè),對涂層和薄膜的厚度進行測量。薄膜:用于光學、電子、半導體等行業(yè),對各種功能薄膜的厚度進行測量。造紙:用于測量紙張的涂布、涂膠和覆膜等工藝中的厚度。無紡布:用于紡織和過濾行業(yè),對無紡布的厚度進行測量。金屬箔材:用于食品包裝、電子器件等行業(yè),對箔材的厚度進行測量。玻璃:用于建筑和汽車行業(yè),對玻璃的涂層厚度進行測量。電池隔膜:用于電池制造行業(yè),對隔膜的厚度進行測量。解決方案一:X射線透射法X射線透射法是一種常用的非接觸涂布厚度測量方法,其測量原理基于射線...
  • 6
    2025 - 03 - 04
    一、核心參數對比表參數項LK-G08(基恩士)LTPD08(泓川科技國產)參考距離8 mm8 mm檢測范圍±0.8 mm±0.8 mm線性度±0.05% F.S.±0.03% F.S.重復精度0.02 μm0.03 μm采樣頻率20 μs1 ms(6檔可調)6.25 μs1 ms(多檔可調)激光類別1類(JIS C6802)2類(安全等級更高)光源功率0.3 mW0.5 mW(可定制更高功率)防護等級未標注IP67工作溫度+10+40°C0+50°C(可定制-4070°C)通訊接口未標注RS485、TCP/IP、開發(fā)包支持供電電壓-DC 936V(±10%波動兼容)重量245 g213 g二、性能差異深度解析1. 測量性能精度與速度: LK-G08在重復精度(0.02μm)上略優(yōu),適合超精密場景;而LTPD08的線性度(±0.03% F.S.)更優(yōu),且在采樣頻率上支持最高6.25μs(縮小量程時可達160kHz),動態(tài)響應能力更強。激光適應性: LTPD08提供405nm藍光版本可選,可應對高反光或透明材質測量,基恩士僅支持655nm紅光。2. 環(huán)境適應性防護等級: LTPD08的IP67防護顯著優(yōu)于未標注防護的LK-G08,適...
  • 7
    2023 - 09 - 26
    1 激光光熱技術測厚:原理是利用激光照射材料,產生的熱量使材料產生變化,再通過光學方式檢測這種變化以確定材料的厚度。優(yōu)點是非接觸式、無損傷、準確;缺點也是顯而易見的,對于顏色、形狀、表面紋理等都有不同程度的影響。2 白光干涉測厚:原理是使用白光干涉儀產生干涉圖案,然后通過分析干涉圖案得材料厚度。優(yōu)點是測量精度高、靈敏度高;缺點是設備復雜且成本高昂。3 激光干涉測厚:主要是利用激光波的相干性,測量物體的干涉條紋來反推出物體的厚度。優(yōu)點是測量精度高、速度快;但激光源的穩(wěn)定性和調節(jié)技術要求比較高。4 光譜共聚焦測厚:該方法是根據材料對不同波長光的反射、折射和吸收特性,同時探測所有波長的光譜,從而計算出材料厚度。優(yōu)點是測量準確、適用范圍廣;缺點是設備復雜、操作要求高。5 橢圓偏光法測厚:原理是利用光的偏振特性對材料進行測量,根據計算出材料厚度。優(yōu)點是接觸、無損傷,但適用范圍有限。6 紅外吸收法測厚:紅外吸收法是指通過測定紅外光在材料中吸收的程度來推斷優(yōu)點是測量過程簡單、直觀、精度高;缺點是對材料的紅外吸收特性有嚴格要求。7 X/β射線測厚:主要是利用X射線或者β射線穿透材料時,穿透的射線強度和物體的厚度之間存在一定的關系。優(yōu)點是精確、可靠;缺點是人體安全需要考慮。8 電容測厚:原理是利用兩極板間的電容量與介質厚度成正比,通過測量電容量來測量厚度。優(yōu)點是設備簡單、便宜;缺點是精度較低。9 反...
  • 8
    2024 - 03 - 05
    在測量被透明物體覆蓋的目標時,環(huán)境照明補償和透視測量是提高測量準確性的重要手段。這些技術的應用,在智能手機等電子設備的制造過程中,具有至關重要的作用。首先,讓我們來探討一下環(huán)境照明補償的作用。在生產線環(huán)境中,照明條件往往并不穩(wěn)定,這會對測量精度產生嚴重影響。環(huán)境照明補償技術通過自動調整傳感器參數,以補償外部光照條件的變化,使得測量系統(tǒng)能在不同的照明條件下都能保持穩(wěn)定的測量性能。這就使得我們在測量被透明物體(如手機屏幕)覆蓋的目標時,能夠得到更為準確的結果。其次,透視測量技術則能夠解決透明物體對測量造成的干擾。由于透明物體會讓部分光線穿過,使得傳統(tǒng)的測量技術難以準確捕捉目標的位置和形狀。而透視測量技術則能夠通過特殊的光學設計和算法處理,使得傳感器能夠“看透”透明物體,直接對其背后的目標進行測量。這樣,我們就可以在不接觸目標的情況下,對其進行準確的測量。在智能手機等電子設備的制造過程中,這兩種技術都有著廣泛的應用。例如,在手機屏幕的生產過程中,環(huán)境照明補償技術可以幫助我們確保屏幕在各種光線條件下都能顯示清晰。而透視測量技術則可以用于測量手機屏幕下的各種元器件,如觸摸屏、攝像頭等,確保它們的位置和尺寸都符合設計要求。此外,這兩種技術還可以結合使用,以提高測量的精度和效率。例如,我們可以先使用透視測量技術確定目標的位置,然后使用環(huán)境照明補償技術對其進行精確測量。這樣,我們不僅可以得到更準確...
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泓川科技的光學楞鏡如何解決光譜共焦傳感器在狹小空間中大量程測量的難題? 2025 - 08 - 12 在半導體芯片制造、精密電子組裝等高端工業(yè)場景中,一個棘手的矛盾始終存在:一方面,設備內部空間日益緊湊,毫米級的安裝高度都可能成為 “禁區(qū)”;另一方面,隨著產品結構復雜化,對測量量程的需求不斷提升,5mm 以上的大量程檢測已成為常態(tài)。如何在狹小空間內實現大量程精密測量?無錫泓川科技給出了突破性答案 ——光學轉折鏡,以創(chuàng)新設計讓光譜共焦傳感器的測量方向 “直角轉向”,既節(jié)省安裝空間,又兼容大量程需求,重新定義精密測量的空間可能性。傳統(tǒng)方案的痛點:空間與量程難以兩全在精密測量領域,側出光傳感器曾是狹小空間的 “救星”。泓川科技旗下 LTCR 系列作為 90° 側向出光型號,憑借緊湊設計廣泛應用于深孔、內壁等特征測量。但受限于結構設計,其量程多集中在 2.5mm 以內(如 LTCR4000 量程為 ±2mm),難以滿足半導體晶圓厚度、大型精密構件高度差等大量程場景的需求。若選擇傳統(tǒng)端面出光的大量程傳感器(如 LTC10000 量程 ±5mm、LTC20000 量程 ±10mm、LTC50000 量程 ±25mm),雖能覆蓋測量需求,卻因軸向出光設計需預留足夠安裝高度,在半導體設備的密閉腔室、精密儀器的緊湊模組中 “寸步難行”??臻g與量程,似乎成了不可調和的矛盾。光學轉折鏡:讓大量程探頭 “直角轉身”,釋放空間潛力泓川科技創(chuàng)新研發(fā)的光學轉折鏡...
泓川科技 LTP 系列激光位移傳感器全國產化制造流程細節(jié)全披露 2025 - 06 - 22 一、國產化背景與戰(zhàn)略意義在全球供應鏈競爭加劇的背景下,激光位移傳感器作為工業(yè)自動化核心測量部件,其國產化生產對打破技術壟斷、保障產業(yè)鏈安全具有重要戰(zhàn)略意義。泓川科技 LTP 系列依托國內完整的光學、電子、機械產業(yè)鏈體系,實現了從核心零部件到整機制造的全流程國產化,徹底解決了接口卡脖子問題,產品精度與穩(wěn)定性達到國際先進水平,同時具備更強的成本競爭力與定制化服務能力。二、核心部件全國產化組成體系(一)光學系統(tǒng)組件激光發(fā)射單元激光二極管:采用深圳鐳爾特光電 655nm 紅光 PLD650 系列(功率 0.5-4.9mW)及埃賽力達 905nm 紅外三腔脈沖激光二極管,支持準直快軸壓縮技術,波長穩(wěn)定性 ±0.1nm,滿足工業(yè)級高穩(wěn)定性需求。準直透鏡:選用杭州秋籟科技 KEWLAB CL-UV 系列,表面粗糙度 光學濾光片:深圳激埃特光電定制窄帶濾光片,紅外截止率 99.9%,有效消除環(huán)境光干擾。激光接收單元光電探測器:上海歐光電子代理 OTRON 品牌 PSD 位置敏感探測器,分辨率達 0.03μm(如 LTPD08 型號),北京中教金源量子點探測器正在實現自主替代。聚焦透鏡組:福州合創(chuàng)光電高精度分光棱鏡,偏振消光比 1000:1,配合廣州明毅電子陽極氧化支架,確保光路同軸度≤5μm。(二)電子電路組件信號處理模塊微處理器:龍芯中科 3A5000 工業(yè)級芯片,支持 - 40℃...
有沒有量程1米,測量精度誤差1mm的國產激光位移傳感器,頻率5Khz以上? 2025 - 06 - 19 有!LTM 系列三款國產激光位移傳感器滿足需求在工業(yè)檢測領域,量程 1 米、精度誤差 1mm、頻率 5KHz 以上的激光位移傳感器是高端測量的剛需,而國產傳感器常因精度或頻率不足被進口品牌壟斷。無錫泓川科技的 LTM2-800W、LTM3-800W、LTM5-800W 三款產品,不僅全面覆蓋上述指標,更以進口品牌一半的成本優(yōu)勢,成為國產替代的優(yōu)選方案。以下從性能參數、優(yōu)劣分析、場景適配及成本對比展開詳細介紹。一、核心性能參數對比型號LTM2-800WLTM3-800WLTM5-800W參考距離800mm800mm800mm測量范圍±500mm(總量程 1000mm)±500mm(總量程 1000mm)±500mm(總量程 1000mm)光斑尺寸450×6000μm450×6000μm450×6000μm重復精度45μm45μm45μm線性誤差采樣頻率5KHz10KHz31.25KHz工業(yè)接口485 串口 / 模擬信號(二選一)以太網 / 485 串口 / 模擬信號以太網 / 485 串口 / 模擬信號光源660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW660nm,Max.50mW防護等級IP67IP67IP67工作溫度0~+50℃0~+50℃0~+50℃功耗約 2.0W約 2.0W約 2.0W二、產品優(yōu)勢分析(一)...
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